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    芯片級試驗驗證,5G通信芯片檢測

    簡要描述:芯片級試驗驗證,5G通信芯片檢測,包括對汽車芯片進行電參數測試、功能驗證、性能評估、結構分析、環境適應性驗證、可靠性評價等能力。廣電計量可提供芯片封裝完整性全面測試,包含引線鍵合拉力,芯片粘接力,可焊性等,對芯片封裝可靠性進?更為科學的評估,

    • 廠商性質:工程商
    • 更新時間:2024-03-13
    • 訪問次數:319

    詳細介紹

    品牌廣電計量服務區域全國
    服務周期常規5-7個工作日服務資質CMA/CNAS
    服務費用是具體項目而定

    服務范圍

    大規模集成電路芯片。廣電計量提供芯片級試驗驗證,5G通信芯片檢測服務。

    檢測標準

    ●JESD22-A103/ A104/ A105/ A108/ A110

    ●J-STD-020

    ●JS-001/002

    ●JESD78

    檢測項目

    (1)芯片級可靠性驗證試驗:高、低溫壽命老化試驗,高、低溫存儲試驗,溫度(功率)循環、沖擊試驗,高溫高濕試驗,高加速應力試驗,芯片級機械測試試驗,推拉力測試。

    (2)芯片靜電及閂鎖測試( ESD/LU):人體、機器放電模式測試及驗證(HBM/MM/TLP),系統 ESD、EOS 測試(IEC-ESD/Surge/EFT),元器件充放電模式測試(CDM),閂鎖測試(LU)。

    相關資質

    CNAS

    服務背景

    EUV制程工藝的高集成度芯片是新一代5G通信技術的核心。面向不同的5G應用場景的可靠性應用驗證是5G芯片推向市場應用的關鍵步驟,芯片級試驗驗證的需求越來越急迫,挑戰也越來越大。廣電計量提供芯片級試驗驗證,5G通信芯片檢測服務。

    我們的優勢

    (1)提供面向多場景的芯片動態老煉測試(TDBI),為產品NPI階段提供專業和全面的?煉測試方案,解決動態?煉過程中?功耗芯片獨立溫控,矢量畸變和延時的眾多困擾;

    (2)芯片封裝完整性全面測試,包含引線鍵合拉力,芯片粘接力,可焊性等,對芯片封裝可靠性進?更為科學的評估;

    (3)芯片靜電及閂鎖測試,提供覆蓋人體/機器放電模式測試及驗證( H B M / M M / T L P )、系統E SD/ E O S測試( I E CESD/Surge/EFT)、元器件充放電模式測試(CDM)和閂鎖測試(LU)。



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